جمع التبرعات 15 سبتمبر 2024 – 1 أكتوبر 2024 حول جمع التبرعات

Методы получения и исследования наноматериалов и...

Main
Методы получения и исследования...

Методы получения и исследования наноматериалов и наноструктур: лабораторный практикум по нанотехнологиям : учебное пособие

Мишина Е. Д. и др., под ред. А. С. Сигова

0 / 0

كم أعجبك هذا الكتاب؟

ما هي جودة الملف الذي تم تنزيله؟

قم بتنزيل الكتاب لتقييم الجودة

ما هي جودة الملفات التي تم تنزيلها؟

عام:

2017

الإصدار:

5-е изд

الناشر:

Бином. Лаборатория знаний

اللغة:

russian

الصفحات:

184

ISBN 10:

5996306174

ISBN 13:

9785996306176

سلسلة الكتب:

Учебник для высшей школы

ملف:

PDF, 3.97 MB

IPFS:

,

russian, 2017

إقرأ علي الإنترنت

جاري التحويل إلى

التحويل إلى باء بالفشل

قد تكون في قائمة إهتماماتك

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

А. Р. Хайруллин, Н. С. Хайруллин, В. А. Петров, Н. В. Аверьянова — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Агеев О.А., Федотов А.А., Смирнов В.А. — Методы формирования структур элементов наноэлектроники и наносистемной техники. Учебное пособие. Часть 1

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Соколова О.С. — Электронная микроскопия нанобиообъектов

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

Пикулев В.Б., Логинова С.В. — Нанофотоника

Томина Елена Викторовна, Миттова Ирина Яковлевна, Сладкопевцев Борис Владимирович, Книрова Мария Викторовна — Практикум синтез и исследование нанодисперсных систем

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

сост. А. П. Гардымова. — Испытание и диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники. Введение в электронную микроскопию

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. — Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ): Описание лабораторной работы

Под редакцией Г.И. Жабрева — Лабораторный практикум «ПОЛУЧЕНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЕ НАНОСИСТЕМ»

أكثر المصطلحات والعبارات المستخدمة

поверхности

наночастиц

изображения

микроскопа

изображение

кантилевера

исследования

наноструктур

оптические

сканирования

микроскопии

структур

образцов

раствора

алюминия

получение

управления

обработка

лабораторные

плоскости

измерений

наночастицы

положение

получения

установите

параметров

излучения

установки

зависимости

оптического

происходит

оптической

взаимодействия

используется

колебаний